1月16日上午，应固体所青联会和微纳技术与器件研究室邀请，中科院光电研究所张文喜研究员访问固体所，并作了题为《全视场外差干涉测量技术》的学术报告。报告由段国韬研究员主持。 

　　报告中，张文喜研究员简要介绍了中科院计算光学成像技术重点实验室，详细介绍了全视场外差干涉测量技术的背景。全视场外差干涉测量技术采用赫兹级移频技术，利用面阵探测器代替点探测器，实现面目标几何量的高精度测量，极大拓展了外差测量的应用领域。之后，张文喜研究员结合他近期关于外差干涉测量的工作，如研制出多款高性能低差频移频器，可用于光滑表面测量、形貌测量等，阐述了其中的关键技术与应用领域。报告结束后，与会师生就感兴趣的问题与张文喜研究员进行了热烈的交流与讨论。 

　　张文喜，中科院光电院研究员，中国科学院大学教授。长期从事干涉测量研究和光场成像研究。主持国家863、中科院知识创新工程重大、中科院创新方向性等十余项国家级项目。 

张文喜研究员作报告 

报告现场